發(fā)明專利、實用新型專利、外觀設(shè)計專利
全類目
集成電路布圖設(shè)計專有權(quán)
地理標志
1.著作權(quán)(版權(quán))鑒定
評估作品是否具有獨創(chuàng)性,核實著作權(quán)歸屬,分析版權(quán)侵權(quán)行為的事實依據(jù),為文學、藝術(shù)、科學領(lǐng)域的作品保護提供法律支持。
2. 專利權(quán)鑒定(發(fā)明專利、實用新型專利、外觀設(shè)計專利)
評估專利技術(shù)的創(chuàng)新性、實用性及法律有效性,分析專利侵權(quán)爭議的技術(shù)比對,為專利糾紛處理和權(quán)益保護提供支持。
3. 商標權(quán)鑒定
核實商標注冊權(quán)歸屬,分析商標侵權(quán)行為的事實依據(jù),評估商標的顯著性及法律保護范圍。
4. 商業(yè)秘密鑒定
評估商業(yè)秘密的保密性、經(jīng)濟性及實際價值,分析泄密或侵權(quán)行為的事實依據(jù),為企業(yè)核心競爭力保護提供支持。
5. 集成電路布圖設(shè)計專有權(quán)鑒定
評估布圖設(shè)計的獨創(chuàng)性、功能性及法律有效性,分析侵權(quán)行為,提供技術(shù)比對和法律支持。
6. 植物新品種權(quán)鑒定
評估植物新品種的特異性、一致性和穩(wěn)定性,核實權(quán)利歸屬,分析侵權(quán)爭議,為植物新品種的法律保護提供依據(jù)。
7. 地理標志權(quán)鑒定
評估地理標志產(chǎn)品的產(chǎn)地特定性、品質(zhì)特性及法律保護性,分析地理標志侵權(quán)行為的事實依據(jù)。